晶锭——衬底——外延片非接触式方阻电阻率检测

非接触式方阻电阻率检测，

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公司由从事半导体检测设备研发、制造数十年行业内哈工大硕士, 博士后团队, 访问学者成立。专业从事非接触式半导体电阻率检测仪, 干涉测厚仪, 静电卡盘, 加热盘, 喷淋盘等产品研发生产销售一体高新技术企业，产品覆盖全国, 远销欧美海外市场。

公司服务站, 分布于全国各大区域。同时在深圳, 常州设有研发基地为客户提供最全面最优质的产品; 同时公司提供专业的半导体检测技术支持, 并致力于提升客户产品的 竞争力, 与客户一道携手共赢。